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激光粒度儀測(cè)試法是新型粒徑測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍廣。激光粒度儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測(cè)試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以一束平行的激光在沒有阻礙的無限空間中將會(huì)照射到無限遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。當(dāng)光束遇到顆粒阻擋時(shí)，一部分光將發(fā)生散射現(xiàn)象。散射光的傳播方向?qū)⑴c主光榮的傳播方向形成一個(gè)夾角θ。散射理論和結(jié)果證明，散射角θ的大小與顆粒的大小有關(guān)，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越小；顆粒越小， 產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。

LT2200系列激光粒度儀加持了真理光學(xué)的偏振濾波技術(shù)，摒棄傳統(tǒng)的針孔和機(jī)械調(diào)整，實(shí)現(xiàn)高穩(wěn)定激光偏振設(shè)置和空間濾波；真理光學(xué)的衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補(bǔ)償修正技術(shù)的使用，使用戶無需選擇分析模式，即可在全粒徑范圍獲得可靠的粒度結(jié)果；LT2200系列粒度儀還采用了真理光學(xué)的高速全息信號(hào)處理技術(shù)，測(cè)量速度高達(dá)創(chuàng)紀(jì)錄的每秒20000次，確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒； LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥，電池材料，地質(zhì)，水文，化工和磨料等諸多行業(yè)的顆粒粒度分析。